晶體(一般為單晶)中含有數(shù)量巨大、規(guī)則排列、方位相同的原子，X射線在晶體中的衍射實(shí)質(zhì)上是晶體中各原子散射波之間的干涉結(jié)果。晶體衍射方向就是X射線射入周期性排列的晶體中的原子、分子，產(chǎn)生散射后次生X射線干涉、疊加相互加強(qiáng)的方向，用布拉格方程可以進(jìn)行表述。XRD全稱X射線衍射,利用X射線在晶體中的衍射現(xiàn)象來獲得衍射后X射線信號(hào)特征，經(jīng)過處理得到衍射圖譜。xrd衍射儀可以進(jìn)行物相的定性和定量分析、晶格參數(shù)的精確測(cè)定、晶粒大小、微觀應(yīng)力分析、單晶定向以及晶體缺陷等方面研究。
每種礦物都具有其特定的X 射線衍射圖譜，樣品中某種礦物含量與其衍射峰和強(qiáng)度成正相關(guān)關(guān)系。在混合物中，一種物質(zhì)成分的衍射圖譜與其他物質(zhì)成分的存在與否無關(guān)，這就是X 射線衍射做相定量分析的基礎(chǔ)。X 射線衍射是晶體的“指紋”，不同的物質(zhì)具有不同的X 射線衍射特征峰值(點(diǎn)陣類型、晶胞大小、晶胞中原子或分子的數(shù)目、位置等)，結(jié)構(gòu)參數(shù)不同則X 射線衍射線位置與強(qiáng)度也就各不相同，所以通過比較X 射線衍射線位置與強(qiáng)度可區(qū)分出不同的礦物成分。xrd衍射儀主要采集的是地層中各種礦物的相對(duì)含量，并系統(tǒng)采集各種礦物的標(biāo)準(zhǔn)圖譜，包括石英、鉀長石、斜長石、方解石、白云石、黃鐵礦等近30 種礦物成分，通過礦物成分的相對(duì)含量就可以確定巖石巖性，為現(xiàn)場(chǎng)巖性定名提供定量化的參考依據(jù)，提高特殊鉆井條件下巖性識(shí)別準(zhǔn)確度。
